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產(chǎn)品名稱:
3G TEM小室
產(chǎn)品型號:
TEM 3000A
產(chǎn)品展商:
華瑞高（horigol）
產(chǎn)品文檔:
無相關文檔
簡單介紹
橫向電磁 （TEM）小室或克勞福德小室（以其***的名字命名）用于在較寬的頻率范圍內(nèi)產(chǎn)生**的電磁波：DC （0 Hz） 至 GHz。單元中產(chǎn)生的電磁波以橫向模式傳播，具有與平面波相同的特性。
3G TEM小室
的詳細介紹
產(chǎn)品概述
橫向電磁 （TEM）小室或克勞福德小室用于在較寬的頻率范圍內(nèi)產(chǎn)生的電磁波：DC （0 Hz） 至 GHz。單元中產(chǎn)生的電磁波以橫向模式傳播，具有與平面波相同的特性。它可用于校準電場寬帶探頭，以測試輻射電場抗擾度，以及測量帶有頻譜分析儀/EMI 接收器的產(chǎn)品的輻射發(fā)射。TEM 單元產(chǎn)生一致的電磁場，用于測試小型射頻設備，如無線尋呼機、接收器、便攜式電話等。通過 TEM 單元的輸入端口施加的外部測試信號在 TEM 單元內(nèi)產(chǎn)生一致且可預測的（平面波）測試場。位于單元中的設備（被測）發(fā)出的輻射場也可以通過連接到 EMI 接收器或頻譜分析儀的信號發(fā)生器端口進行檢測。與開放區(qū)域測試場 （OATS） 一樣，被測設備 （EUT） 放置在底部接地平面上，并符合屏蔽外殼條件。TEM 電池用于*終合規(guī)性認證測試。IEC 61000-4-3 EMC 標準要求使用 TEM 單元進行輻射敏感性和輻射發(fā)射測試。集成電路 （IC）、微機電系統(tǒng) （MEMS） 設備和 PCB 也可以根據(jù) SAE J1752-3 標準進行測試。TEM 細胞可以在舒適的實驗室內(nèi)提供與 OATS 相當?shù)男阅埽⑶?OATS 誤差*小。與帶狀線相比，TEM 單元的主要優(yōu)點是，在前者中，EUT 完全屏蔽（除了插入/監(jiān)控 EUT 的窗口）與外部環(huán)境無關，因此產(chǎn)生的結(jié)果誤差可以忽略不計。這是 TEM 電池有資格進行*終一致性測試的原因之一。
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技術規(guī)格
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TEM 3000 系列
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頻率范圍
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直流-3GHz
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板下高度
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2.35 厘米
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尺寸 （長 x 寬 x 高）
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15x8x6 厘米
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*大輸入功率
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400W 長效
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25W 放大器的領域
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1,4KV/米
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阻抗
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50 歐姆
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駐波比
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<1.2
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回波損耗
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>20分貝
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連接器類型
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N 或 SMA
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重量
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約 1,6 公斤。
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選項
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信號和電源濾波器，虛擬負載：按需
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* 可配備符合 SAE J1752-3 的 IC 或 PCB 測試裝置
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