描述：

• 頻率范圍30MHz ～ 6GHz
• 由4個磁場探頭和1個電場探頭組成
• 磁場探頭 XF-R 400-1，XF-R 3 – 1，XF-B 3 – 1，XF-U 2,5 - 1
• 電場探頭 XF-E 10，含SMA-SMA電纜

近場探頭組XF 1各探棒介紹

     說 明
     XF-R 400 – 1：直徑約25mm，高靈敏度，低分辨率，可以距離被測物10cm使用，檢測場的分布，用于磁場源定位，分析干擾源。
     頻率范圍30MHz－6 GHz。
     直徑約25mm。

     XF-R 3 – 1：探頭尺寸小，分辯率為毫米級。 
     在布線、IC管腳、旁路電容及EMC元件等區域，通過移動探頭，可以檢測磁場的分布和方向。
     頻率范圍30MHz-6GHz。
     分辨率約1 mm。

     RF-B 3-1：用于檢測扁平單元表面垂直發射的磁場。
     對于PCB有些有遮擋部分的電路，可能無法用XF-R 3 – 1測量場方向，這時可以使用RF-B3-1來測量。
     頻率范圍30MHz－6GHz，分辨率約2mm。

     XF-U 2,5-1：用于有選擇性地檢測細小布線、元件連接處、電容器、IC管腳等的電流頻譜。探頭頂端有1個約0.5mm寬的磁場敏感的缺口，測試時將這個缺口放在布線、IC或電容器的連接點上。
     頻率范圍30MHz-6GHz，分辨率約0.5mm。

     XF-E 10：探頭的**僅有0.5 mm寬，用于測試信號線在其表面發射的電場。內部的屏蔽設計，能防止鄰近導線對測試結果的影響，能對每根導線進行單獨測量。
     頻率范圍30MHz-6GHz，分辨率約0.2mm。
 

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